高频测试插座

高频测试插座
IC器件测试插座、高频测试插座
GU41系列(1.0毫米/0.039英寸间距)
适用于BGA(FPGA),LGA测试和老化插座
1.0mm/0.039“间距18x18触点z大值
-也可用作老化插座-高可靠性-具有成本竞争力-交货时间
短-温度范围(典型值)
-40至+150℃(典型值)
是用于集成电路应用功能验证的重要工具。主要作用如下：
连接导通：它作为PCB（印刷电路板）与IC（集成电路）之间的静态连接器，确保电路的连通性。
方便更换测试：使用测试插座可以避免在测试过程中频繁地焊接和取下芯片，从而简化了芯片的更换和测试流程。
保护芯片：对于可编程芯片和微控制器等，测试插座可以保护芯片免受焊接可能造成的热损坏，并允许轻松拆卸以进行测试、编程或更换。
电性能测试：测试插座是对IC器件的电性能及电气连接进行测试的标准设备，用于检查生产制造缺陷及元器件不良。
适配不同封装：提供各种类型的测试插座，如DIL插座（双列直插式）适用于多种引脚数量的IC，SIL插座（单列）则适用于较小的应用中。
优化设计方案：高性能、高质量的测试插座可以帮助精准测量组件的各个参数，优化对应设计方案，提升产品生产良品率。
支持高带宽传输：具有稳定的高带宽、低电阻和低电感，确保信号传输的准确性和效率。
来料检测：在新芯片到达生产线时，可以使用测试插座进行来料检测，以确保芯片的质量符合标准。
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